Dernière modification: 21/06/2023
LA QUESTION :
Les termes AMDE et AMDEC peuvent être communs parmi les fabricants de composants, mais le terme AMDED n’est connu que si le fabricant a des composants de sécurité dans son portefeuille. Que signifient ces différents acronymes et quelles sont les différences ?
CONSIDÉRATIONS :
L’analyse des modes de défaillance et de leurs effets (AMDE) est une procédure systématique d’analyse d’un système ou d’un composant visant à identifier les modes de défaillance potentiels, leurs causes et leurs effets sur les performances du système (performances de l’ensemble immédiat et de l’ensemble du système ou d’un processus).
L’AMDE est considérée comme une méthode permettant d’identifier la gravité des modes de défaillance potentiels et de fournir une contribution aux mesures d’atténuation visant à réduire les risques. Toutefois, dans certaines applications, l’AMDE comprend également une estimation de la probabilité d’occurrence des modes de défaillance. Cela améliore l’analyse en fournissant une mesure de la probabilité du mode de défaillance. À cet égard, l’AMDED est très similaire à l’AMDE.
L’application de l’AMDE est précédée d’une décomposition hiérarchique du système en ses éléments de base. Il est utile d’utiliser des schémas fonctionnels simples pour illustrer cette décomposition. L’analyse commence alors par les éléments de niveau le plus bas. Un effet de mode de défaillance à un niveau inférieur peut alors devenir une cause de défaillance d’un mode de défaillance d’un élément du niveau supérieur. L’analyse se poursuit de manière ascendante jusqu’à ce que l’effet final sur le système soit identifié.
L’AMDEC (analyse des modes de défaillance, de leurs effets et de leur criticité) est une extension de l’AMDE qui permet de classer la gravité des modes de défaillance afin de hiérarchiser les contre-mesures. Pour ce faire, on combine la mesure de la gravité et la fréquence d’occurrence pour produire une mesure appelée criticité.
L’analyse des modes de défaillance, de leurs effets et du diagnostic (AMDED) est utilisée pour calculer les défaillances aléatoires du produit : il s’agit d’une extension de la procédure AMDE classique. Cette technique a d’abord été développée pour les appareils électroniques, mais elle est désormais également utilisée pour les appareils mécaniques et électromécaniques. Les résultats de l‘AMDED correspondent aux différents taux de défaillance utilisés dans le cadre de la sécurité fonctionnelle :
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λSD
: taux d’échec détecté en toute sécurité
- λSU : Taux de défaillance non détectée sûre
- λDD : taux de défaillance dangereuse détectée
- λDU : taux de défaillance dangereuse non détectée
- λNE : taux de défaillance sans effet
L’AMDED consiste à examiner chaque composant d’un produit et, pour chacun d’entre eux, à analyser l’effet d’une défaillance aléatoire sur le produit. Les questions posées sont les suivantes : la défaillance d’une résistance spécifique entraînera-t-elle une défaillance sûre, une défaillance dangereuse ou une perte d’étalonnage du produit ? Si la ligne de communication série entre l’A/D et le microprocesseur est court-circuitée, comment le produit réagit-il ? La rupture de ce ressort entraîne-t-elle une défaillance dangereuse ou sûre ? De cette manière, le taux de défaillance de chaque composant est analysé et les différents groupes sont additionnés.
Le résultat final est donc un ensemble de données de défaillance spécifiques au produit qui comprend les taux de défaillance pour chaque mode de défaillance : les taux de défaillance détectés et non détectés par les diagnostics, les calculs de la fraction de défaillance sûre et, souvent, une explication sur la manière d’utiliser les chiffres pour les calculs de vérification de la sécurité.
L’AMDED est parfois réalisée par le fabricant du produit, mais elle est généralement confiée à des tiers.
Il convient de souligner qu’une AMDED fournit les taux de défaillance, les modes de défaillance et l’efficacité de la couverture diagnostique pour les défaillances matérielles aléatoires. Elle n’inclut pas les taux de défaillance dus à des causes « systématiques », notamment une installation incorrecte, des dommages involontaires, un étalonnage incorrect ou toute autre erreur humaine.
CONCLUSIONS :
Des trois méthodes analysées dans cet article, l’AMDED est celle qui est utilisée pour calculer les différents taux de défaillance des composants utilisés dans les systèmes instrumentés de sécurité à faible demande. Ces taux de défaillance sont nécessaires si la route 1H, conformément à la norme CEI 61508-2, est utilisée pour évaluer le niveau de fiabilité d’un SIF.